电路板测试服务主要是单板的SI信号√完整性测试、PI电源∑完整性测试、和各种接口一致性测试服务。

信号完整性（SI, Signal Integrity），定义为信号在电路中能▲以正确时序和电压做出回应的能力。广义上讲，信号完整性指的是在高速产品中由互连线引起的所有问题。SI解决的是信号传输过程中的质量问题，尤其是在高速领域，数字信号的传输不能只考虑逻辑上的实现。

电源完¤整性（PI，Power Integrity），是确认电源来源及目的↘端的电压及电流是否符合需求。电源完♀整性涉及的层ξ　面包括芯片层面、芯片封装层面、电路板层面及系统层面。

一、信号完整性SI主要测试〓项目：

二、电源完整性PI主要测试项目：

三、接口一致性主要测试项↑目：

示波器住主要参数

	Tektronix DPO5104	LeCroy SDA6000A	LeCroy SDA845Zi-A
图片
模拟带宽	1 GHz	6 GHz	45GHz
采样率	10 GS/s	10 GS/s	120GS/s
记录长度	25M 点	4M/8M 点	256M 点
模拟通道	4	4	4

测试附件、治具一览表

名词解释

● SPI：串行外设接口（Serial Peripheral Interface），高速的，全双工，同∏步的通信总线。测试主要分♂析clock、data_in、data_out、CS#之间的时〖序；

● SMI：串行管理接口（Serial Management Interface），也被称作MII管理接口（MII Management Interface），包括MDC和MDIO两条信号线。测＠ 试主要分析MDC和MDIO之间的时↙序；

● DDR：双倍速率同步动态随机◆存储器（Dual Data Rate），其全称为DDR SDRAM，而DDR3则是DDR的第三代产品。测试主要≡分析DDR3的DQ、DQS、AD、RAS、CAS等时序；

● PCIe：高速串行计算机扩展总线标准（peripheral component interconnect express），速串行点对点双通道高带宽传输。测试主要◆分析PCIe_TX和PCIe_RX的EyePattern；

● SGMII：串行千兆媒体独立接口（serial gigabit media independent interface），SGMII是MAC和PHY之间的串行接口。测试〗主要分析SGMII_RX 和SGMII_TX的EyePattern；

● SFP+：可插拔光学收发器接口，传输速率为10.3125Gbps。测Ψ 试主要分析SFP+_TX的Eye Pattern；

● QSFP：四通道的SFP+接口】的可插拔光学收发器接口，传输可达到40Gbps以满足更高速率的要求。测试主要分析QSFP_TX的Eye Pattern；

● I2C：Inter-IC bus，共两条连续总线，SCL和SDA。测试主要分析SCL和SDA之间的时序。

● Clock：时钟信号（Clock Signal），有固定的时钟频率，于同步电路当中，扮演计时器的角色，保证相关的电子组件得以同步运作；测试主要分析精度和时序

● URAT：通用异步收发传输器（Universal Asynchronous Receiver/Transmitter)，通常称作UART。它将要传输的▲资料在串行通信与并行通信之间加以转换。作为把并行输入信号转成串行输出信号的芯片，UART通常被集成于其他通讯接口的连结上。

● MII：MII是英文Medium Independent Interface的缩写，翻译成中文是“介质独立接口”，该接口一般应用于ΨMAC层和PHY层之间的以太网数据传输，也可叫数据【接口。（MAC与PHY间的管理接口一般是MDIO）

● MII接∞口的类型有很多，常用的有MII、RMII、SMII、SSMII、SSSMII、GMII、RGMII、SGMII、TBI、RTBI、XGMII、XAUI、XLAUI等。

● HDMI：高清多媒体接口（High Definition Multimedia Interface，HDMI）是一种全数字化视频和声音发送接口，可以发送未压缩的音频及视频信号。HDMI可用于机顶盒、DVD播放机、个人←计算机、电视、游戏主机、综合Ψ扩大机、数字音响与电视机等设备。HDMI可以同时发送音频和◤视频信号，由于音频和视频信号采用同一条线材，大大简化系统线路的安装难度。

● MIPI：MIPI联盟，即移动产业处理器接口（Mobile Industry ProcessorInterface 简称MIPI）联盟。MIPI（移动产业处理器接口）是MIPI联盟发起的为移动应用处理器制定的开放标准和◇一个规范。

● USB：Universal Serial Bus（通用串行总线№），标准的〖数据通信方式，现已发展到USB4.0，测试主要分析接收端HOST、Device和发送端TP1

● PCI：Peripheral Component Interconnect(外设部件互连标准)，是一种同步的独立于处理器的32位或64位局部总线。测试主要分析PCI_TX和PCI_RX的Eye Pattern；

● XAUI：其中的“AUI”部分指的是以太网连←接单元接口（Ethernet Attachment UnitInterface）。“X”代表罗马数字10，它意味着每秒万兆(10Gbps)。

● SFI：sfi接口SFI (SFP+high speed serial electricalinterface）接口是一种基于交流耦合的差分⌒　低电压高速接口，用于连接PHY和40G/100G光模块。测试主要分析SFI_TX的Eye Pattern；

● SATA：SATA是SerialATA的缩写，即串行ATA。它是ζ一种电脑总线，主要功能是用作主板和大量存储设备（如硬盘及光盘驱动器）之间的数⌒据传输。

Clock 精度测试●方法

测试流程：

1.找准待测试clock信号的」测试点；

2.用Probe Cable将测试点连接至频谱仪信号采集通道上；

3.频谱仪设置:设置Center Freq.为待测试信号的标准值,Span.设置为100MHz,Count选项中选择ω　1Hz使得测试结果精度为1Hz；

4.使DUT正常工作，频谱仪取值Marker:Max.值,记录测试结果。

测试方式︽示意图：

Clock精度测试

测试流程：

1.找准待测试clock信号的测试点；

2.用Probe Cable将测试点连接至示波器采集通道上；

3.设置示波器测ζ量相关参数；

4.使DUT正常工作，获得clock信号的测试数◎据。

测试方▃式示意图：

I2C测试

测试流程：

1.找准待测试I2C的clock和data信号№测试点；

2.将两根probe cable连接在示波器№信号采集口上，设置其delay为0；

3.将Probe Cable的探针接在测试点≡上；

4.使DUT正常工作，获得I2C中clock和data信号的测试数◤据。

测试方■式示意图：

测∞试波形图

LM75_1_I2C	LM75_1_HD,DAT

SPI时序测试

测试流程：

1.找准待测试clock信号的测试点；

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay为0；

3.将Probe Cable的探█针接在测试点上；

4.使DUT正常工作，获得SPI信号的测试数据。

测试方式示意』图△：

测试波形↑图：

SPI	tCHSH

MII测试

测试流程：

1.找准待测试MDC/MDIO信号的测试点；

2.将两根Probe Cable连接在示波器信号采集口上,设置其Delay为0；

3.将Probe Cable的探卐针接在测试点上；

4.使DUT正常工作，获得MDC/MDIO信号的测试数据。

测试方式示意图：

测试≡波形图：

MDC& MDIO	MDIOValid from MDC Rising Edge

SGMII测试

测试流程：

1.找准待测试SGMII的RX信号测█试点；

2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上；

3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上；

4.使DUT正常工作，获得SGMII信号的EyePattern测试数据。

测试方式示意图：

测试波形〒图：

SGMII_0_TX	SGMII_0_RX

DDR2测试

测试流程：

1.找准存储模块的DQ_n、DQS_n、AD_n、RAS、/CSn、Wen测试点；

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上，设置其Delay值为0；

3.将Probe Cable的探针接¤到测试点上；

4.在↙示波器设置中选择QualiPHY，并根据实际测试项目进行设置；

5.使DUT正常工作，使用电脑通●过console cable使得DUT进行数据【通信以保证DDR模块有数据传输；

6.运行QualiPHY，获◆取测试数据。

测试方式示意图：

测试♀波形图：

U7_Clock Tests - all but tERR(nper)	U7_Clock Tests - tERR(2per), tERR(3per)

DDR3、4测试

测试流程：

1.找准存储模块的DQ_n、DQS_n、AD_n、RAS、/CSn、Wen测试点；

2.将四根Probe Cable连接在示波器信号采集口上，设置其Delay值为0；

3.将Probe Cable的探针接到测试点上；

4.在示波器设置中选择QualiPHY，并根据实际测试项目进行设置；

5.使DUT正常工作，使用电脑通过console cable使得DUT进行数据通信以保证DDR模块有数据传输；

6.运行QualiPHY，获取测试数☆据。

测↘试波形图：

U1008_Test Timing - tDH(base) min DQS2 VREF to DQ19 VIHVIL(dc)	Timing min DQ19 VIHVIL(ac) to DQS1 VREF

SFP+测试

测试流程：

1.用SFP Connector Assembly Cable将DUT和示波♀器连接；

2.使DUT正常工作，通过console cable读取SFP+模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的；

3.获取SFP+信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图：

测试波ω　形图：

SFP+_1_TX	SFP+_2_TX

QSFP测试

测试流程：

1.用QSFP Connector Assembly Cable将DUT和示波器连接；

2.使DUT正常工作，通过console cable读取QSFP模块的基本信息达到测试点有信号通信的目的；

3.获取QSFP信号的Eye Pattern测试数据。

测试波形▂图：

QSFP_1_TX0	QSFP_1_TX1

PCIe测试

测试流程：

1.找准待测试PCIe的TX和RX信号测试点；

2.将差分probe cable连接在示波器信号采集口上；

3.将差分Probe Cable的探针接在测试点上；

4.使DUT正常工作，获得PCIe_RX/TX信号的Eye Pattern测试数据。

测试方式示意图：

测试ぷ波形图：

→ DVI一致性测试

测试流程：

→ HDMI一致性测试

测试流程：

测试方式示意图：

测试波形图：

→ MIPI DPHY（MPHY）测试

测试方式示意图：

测试波形图：

→ SATA一致性测试

测试流程：

测试方式示意图：

测试波形图：

→ USB2.0一致性测试：

测试流程：

测试方式示意图：

测试波形图：

USB3.0一致性测试：

测试方式示意图：

测试波形图：